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BondMaster1000e+超聲波復(fù)合材料檢測(cè)儀

BondMaster1000e+超聲波復(fù)合材料檢測(cè)儀

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BondMaster1000e+超聲波復(fù)合材料檢測(cè)儀-中國(guó)總代理

  • 產(chǎn)品描述
BondMaster1000e+超聲波復(fù)合材料檢測(cè)儀【奧林巴斯】

用戶使用BondMaster1000e+,可以選擇*的應(yīng)用方法,對(duì)種類(lèi)繁多的復(fù)合材料進(jìn)行檢測(cè)。由于其高性能、輕重量、堅(jiān)固耐用的特點(diǎn), 該款儀器成為應(yīng)用于復(fù)合材料的生產(chǎn)、維護(hù)和維修領(lǐng)域的*選擇。

由于備有可更換式顯示屏,BondMaster 1000e+ 具有當(dāng)今zui高的分辨率。在室內(nèi)或明亮的室外環(huán)境,用戶可以使用彩色或單色液晶顯示屏(LCD);在通常光線或昏暗光線環(huán)境,用戶可使用高亮度場(chǎng)致發(fā)光屏(ELD)。這一屏幕互換特色使得儀器的應(yīng)用具有的靈活性和方便性。堅(jiān)固耐用精心設(shè)計(jì)的外殼、簡(jiǎn)潔的前面板、SmartKnob™以及內(nèi)設(shè)PowerLink™ 技術(shù)使得BondMaster 1000e+ 成為真正的創(chuàng)新型、易于使用的手持式輕便探傷儀。

在連接了探頭的情況下,BondMaster 1000e+使用PowerLink技術(shù)自動(dòng)配置儀器。內(nèi)設(shè)的校準(zhǔn)模式幫助用戶優(yōu)選測(cè)試參數(shù)。每一種檢測(cè)技術(shù)都有多種探頭備選。

特點(diǎn)

  • 信息處理速度更快
  • (某些模式中, 處理速度甚至達(dá)到通常速度的10倍)
  • 豐富的多模式功能:
    • 一發(fā)一收模式 (RF、脈沖、掃頻)
    • MIA (***械阻抗分析) 模式
    • 諧振模式
  • 可互換式顯示屏:
    • 高亮度場(chǎng)致發(fā)光屏
    • 單色液晶顯示屏
    • 彩色液晶顯示屏
  • 改進(jìn)的屏幕顯示:
    • 分屏顯示 (P-C RF、P-C 脈沖)
    • 戶外顯示
  • VGA 輸出
  • 可隨時(shí)隨地更換的鋰離子電池
  • 重量輕, 2kg (4.4lb)
  • 打印***或計(jì)算***接口為USB 輸出 (通過(guò)適配器)
  • 報(bào)警輸出
  • 程序與跟蹤存儲(chǔ)
  • PowerLink 技術(shù)提供自動(dòng)探頭識(shí)別和儀器設(shè)置功能
  • 備有高電壓一發(fā)一收探頭

    Bondmaster 1000e+ 技術(shù)規(guī)格

    檢測(cè)方法
    當(dāng)一個(gè)探頭接入BondMaster™ 后,儀器便根據(jù)該探頭類(lèi)型自動(dòng)進(jìn)行配置。
    操作模式為一發(fā)一收 (RF、脈沖、掃頻),
    MIA (***械阻抗分析)以及諧振。
    一發(fā)一收RF模式:使用短脈沖能量測(cè)量波幅和相位變化,以便檢測(cè)脫膠。顯示的信息為包絡(luò)或矢量顯示形式。由RF 數(shù)據(jù)可得到阻抗顯示。無(wú)需耦合劑。
    一發(fā)一收脈沖模式:使用短脈沖能量測(cè)量波幅和相位變化,以便檢測(cè)脫膠。顯示的信息為包絡(luò)或矢量顯示形式。無(wú)需耦合劑。
    一發(fā)一收掃頻模式:使用掃頻方式測(cè)量波幅和相位變化,以便檢測(cè)脫膠。無(wú)需耦合劑 (5kHz到100 kHz)。
    ***械阻抗分析模式(MIA):測(cè)量材料的剛度。輸出形式為波幅和相位。無(wú)需耦合劑。
    諧振模式:通過(guò)探頭諧振的相位變化和波幅檢測(cè)脫膠。需耦合劑。

    輸入和輸出
    探頭連接器:11針Fisher接頭
    模擬輸出:信號(hào):±5 V,偏置可調(diào),不受位置控制或縮放功能的影響。
    技術(shù)規(guī)格
    頻率范圍:250 Hz 到 1.5 MHz。在此范圍內(nèi),特殊測(cè)試模式受限制。
    增益:-10 dB 到 50 dB
    模擬輸出更新:在MIA和諧振模式下,模擬輸出持續(xù)更新。在一發(fā)一收模式下,數(shù)據(jù)以同樣速率更新。
    報(bào)警盒:本儀器可以使用任意大小的報(bào)警盒。報(bào)警盒可被定義并且可置于屏幕的任何位置。在RF和脈沖設(shè)置模式下,可使用一個(gè)可調(diào)垂直波幅報(bào)警器。
    報(bào)警邏輯:正或負(fù)報(bào)警門(mén)
    報(bào)警輸出:0 V 到 3 V HC邏輯輸出,開(kāi)關(guān)切換聲音報(bào)警,以及前面板信號(hào)器。安裝在探頭上的報(bào)警指示為標(biāo)準(zhǔn)配置。
    時(shí)鐘和日歷:時(shí)間和日期信息隨每幅波形存儲(chǔ)和打印。
    語(yǔ)言:菜單可顯示為英語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、法語(yǔ)或德語(yǔ)。
    RS-232/USB 接口:屏幕打印輸出和計(jì)算***接口。USB輸出須通過(guò)一個(gè)RS-232 轉(zhuǎn)接器。
    屏幕存儲(chǔ):可存儲(chǔ)多達(dá)20幅屏幕拷貝。
    程序存儲(chǔ):可存儲(chǔ)多達(dá)100個(gè)檢測(cè)設(shè)置。
    通用規(guī)格
    尺寸(長(zhǎng)× 高 × 厚):242mm × 140mm × 92mm (9.5in. × 5.5in. × 3.6in.)
    重量:2kg (4.4lb)
    顯示:可互換式QVGA顯示 (320 x 240 像素):彩色或單色液晶顯示屏、高亮度場(chǎng)致發(fā)光屏
    工作溫度:-20°C 到 60°C (-4°F 到 140°F)
    存儲(chǔ)溫度:-40°C 到 80°C (-40°F 到 176°F)
    濕度:95% ± 5%
    等級(jí):基于MIL-PRF-28800F手冊(cè)的2級(jí)規(guī)范。
    海拔高度:工作和非工作情況下的zui大海拔高度限制為4,600m (15,000 ft)。
    危險(xiǎn)區(qū)域操作:可安全地在國(guó)家防火協(xié)會(huì)規(guī)范 (NFPA 70) 500節(jié)中的D段2分段1級(jí)規(guī)定的環(huán)境中操作,并通過(guò)美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F 方法511.4,程序1的測(cè)試。
    電源
    電源:7針連接器供內(nèi)部電池充電,并且供設(shè)備使用交流電源。
    電源要求:電源線,85V 到 240V, 50Hz 到 60Hz。外置電池充電器。充電時(shí)間一般需要4小時(shí)。
    電池低電保護(hù):條狀顯示表明大概剩余時(shí)間。
    電池工作時(shí)間:6到8小時(shí)(額定,取決于配置)

    探頭和附件
    所有BondMaster™ 1000e+ 探頭都具備PowerLink™ 功能。這些探頭包括一發(fā)一收(S-PC)、MIA(S-MP)、諧振(S-PR)探頭。
    BondMaster PC 界面軟件:可使數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C***。

  • Probes

    Pitch-Catch mode uses high-frequency sound waves to transmit surface waves into the test part. A separate receiving element, a set distance from the transmitter, picks up the energy transmitted into the material. The sound waves are carried in a plate-wave mode across the test piece between the two probe tips.

    Part Code Item Number Description
    9317797 U8010012 S-PC-P11: Spring-loaded tips, 17 mm (0.67 in.) tip spacing, low voltage
    9322074 U8770334 S-PC-P12: Fixed tips, 17 mm (0.67 in.) tip spacing, high voltage
    9322076 U8770336 S-PC-P13: Spring-loaded tips, 17 mm (0.67 in.) tip spacing, high voltage
    9323945 U8800601 S-PC-P14: Spring-loaded tips, 15 mm (0.59 in.) tip spacing, high voltage
    9323954 U8629399 S-PC-P15: Spring-loaded tips, 13mm (0.51 in.) tip spacing, high voltage
    9323952 U8010062 S-PC-P16:Spring-loaded tips, 15 mm (0.59 in.) tip spacing, high voltage
    9322184 U8010039 SPO-5629-PHV: Spring-loaded tips, 13 mm (0.51 in.) tip spacing, high voltage.
    9323942 U8010054 S-PC-DHV: Differential High Voltage, four spring-loaded tips

    MIA Probes

    The Mechanical Impedance Analysis (MIA) test mode uses a single-tipped dual-element probe. A drive element generates sound waves and a receive element detects the effect of the structure on probe-tip loading.

    Part Code Item Number Description
    9317806 U8010013 S-MP-1: Right angle probe, 12.7 mm (0.5 in.) tip diameter.
    9317807 U8010014 S-MP-2: Straight probe, 6.35 mm (0.25 in.) tip diameter.
    9317796 U8010011 S-MP-3: Right angle probe, 12.7 mm (0.5 in.) tip diameter.
    9317808 U8010015 S-MP-4: Right angle probe, 6.35 mm (0.25 in.) tip diameter.
    9322075 U8770335 S-MP-5: Right angle probe, 12.7 mm (0.5 in.) tip diameter.

    Resonance Probes

    The Resonance mode contact transducer is driven at its resonant frequency and coupled to the sample using a low-viscosity couplant. Impedance changes in the sensor are analyzed to detect changes in the test sample.

    Part Code Item Number Description
    9317809 U8010016 S-PR-1: 35 kHz (±5 kHz) in a 15.9 mm (0.63 in.) diameter case
    9317810 U8010017 S-PR-2: 65 kHz (±10 kHz) in a 15.9 mm (0.63 in.) diameter case
    9317793 U8010008 S-PR-3: 110 kHz (±10 kHz) in a 15.9 mm (0.63 in.) diameter case
    9317794 U8010009 S-PR-4: 165 kHz (±10 kHz) in a 12.7 mm (0.5 in.) diameter case
    9317795 U8010010 S-PR-5: 250 kHz (±10 kHz) in a 9.5 mm (0.37 in.) diameter case
    9317811 U8010018 S-PR-6: 330 kHz (±10 kHz) in a 9.5 mm (0.37 in.) diameter case

    Kits

    Part Code Item Number Description
    BM-KIT-PC1 U8010069 BondMaster Probe and Standard Kit for Pitch-Catch Inspections
    Contains: NEC-6407 Reference Standard with S-PC-P14 Pitch-Catch Probe and Cable
    BM-KIT-PC2 U8010070 BondMaster Probe and Standard Kit for Pitch-Catch Inspections
    Contains: NEC-6407 Reference Standard with S-PC-P14 and SPO-5629PHV Pitch-Catch Probes and Cable
    BM-KIT-MIA U8010071 BondMaster Probe and Standard Kit for MIA Inspections
    Contains: NEC-6407 Reference Standard with S-MP-3 MIA Probe and BMM-H Spring Holder and Cable
    BM-KIT-RES-C U8010072 BondMaster Probe and Standard Kit for Resonance Inspections
    Contains: NEC-6382 Composite Reference Standard with S-PR-4 Resonance Probe, Couplant and Cable
    BM-KIT-RES-A U8010073 BondMaster Probe and Standard Kit for Resonance Inspections
    Contains: NEC-6384 Aluminum Reference Standard with S-PR-4 Resonance Probe, Couplant and Cable
    BM-KIT-PMR U8010074 BondMaster Probe and Standard Kit for Pitch-Catch, MIA and Resonance Inspections
    Contains: NEC-6407 Reference Standard, S-PC-P14 and SPO-5629PHV Pitch-Catch Probes, S-MP-3 MIA Probe with BMM-H Spring Holder, NEC-6382 Composite Reference Standard, NEC-6384 Aluminum Reference Standard, S-PR-4 Resonance Probe, Couplant and Cables
聯(lián)系人:劉浩宇
手機(jī)
13524456758
電話
86-021-56374192,56615309
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